物理・表面計測系

透過型電子顕微鏡

jem1400p
メーカー 日本電子株式会社
型番(形式) JEM-1400Plus
設置場所 2号館122B室
管理室 透過型電子顕微鏡室Ⅲ
公開範囲 学内のみ

生物分野からポリマー、ナノテクノロジー、最先端材料まで幅広い分野で透過電子顕微鏡観察が可能です。

装置性能および仕様

加速電圧 40, 60, 80, 100 kV (10~120 kV)
分解能 粒子像:0.38 nm,格子像:0.2 nm
倍率 MAGモード ×200 ~×1,200,000
LOW MAGモード ×10 ~×1,000

分析対象

試料サイズ ・3mmΦ のグリッドに試料を載せて高真空中で観察する。
・電子線が透過できる厚さであることが必要

■分析不可

(1) 毒物、危険物 (2) ガスが発生するなど、装置の故障の原因となる試料 (3) 強い磁化を持つ試料(磁性体については別途ご相談ください) (4) 前処理や分析過程で、装置に障害をきたす恐れがあると判断した試料

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学内利用方法および利用料金

ポータル内の機器分析受付システムに記載の注意事項を確認の上、申請してください。 利用料金は、職員ポータル共有ドキュメント内にあります。 e.センター>03-09大型設備基盤センター>01 料金表