物理・表面計測系

高分解能透過電子顕微鏡

jem2010hr
メーカー 日本電子株式会社
型番(形式) JEM-2010HR
設置場所 22号館214室
管理室 透過型電子顕微鏡室II
公開範囲 学内外

一般的な明視野・暗視野観察から高分解能観察、電子回折図形の取得ができます。また、EDSによる点分析が可能です。

装置性能および仕様

加速電圧 200 kV
電子銃 熱電子銃(LaB6)
観察モード 透過型電子顕微鏡(TEM)、電子回折(ED)
分析機能 エネルギー分散型X線分光器(EDS)
記録装置 CCDカメラ(Gatan USC)
試料ホルダー 一軸傾斜ホルダー、二軸傾斜ホルダー、分析用一軸傾斜ホルダー、加熱二軸傾斜ホルダー、界面接合ホルダー

分析対象

状態 無機物質
試料サイズ 試料はφ3mmのTEM用メッシュに載っている必要があります

■分析不可

磁性体および有機物は応相談

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学内利用方法および利用料金

ポータル内の機器分析受付システムに記載の注意事項を確認の上、申請してください。 利用料金は、職員ポータル共有ドキュメント内にあります。 e.センター>03-09大型設備基盤センター>01 料金表

学外利用方法および利用料金

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