キーワード: EDS

測定室(管理室) 装置・機器
メーカー名 / 型番(形式)
設置場所・公開範囲
透過型電子顕微鏡室Ⅱ 電界放出形透過電子顕微鏡
日本電子株式会社 / JEM-2100F
22号館214室・学内外
高分解能透過電子顕微鏡
日本電子 / JEM-2010HR
22号館214室・学内外
透過型電子顕微鏡室Ⅲ 透過型電子顕微鏡
日本電子 / JEM-z2500
2号館122B室・学内外
走査電子顕微鏡
日本電子 / JSM-6010LA
2号館909A室・学内のみ
透過型電子顕微鏡室Ⅳ 透過型電子顕微鏡
日本電子 / JEM-2100
セラ研B棟122・学内外
透過型電子顕微鏡室Ⅴ 原子分解能分析電子顕微鏡
日本電子 / JEM-ARM200F
2号館121B室・学内外
軟X線分光室 軟X線分析装置
日本電子 / JXA-8230
2号館113B室・学内外
X線マイクロアナライザー室 電界放出型電子プローブマイクロアナライザ
日本電子 / JXA-8530F
22号館402室・学内外
電界放出型走査電子顕微鏡
日本電子 / JSM-7001F
22号館402室・学内外
走査電子顕微鏡室Ⅲ 低加速電圧型ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
日本電子 / JSM-7800F
22号館409室・学内外
RCS-I 日立ハイテクS3400/堀場製作所分析装置
日立ハイテクノロジーズ、堀場製作所 / TEC-LaB6-D
1号館723B室・学内のみ
RCS-V 走査型電子顕微鏡
日本電子株式会社 / JSM-6010LA
2号館1014B室・学内のみ