系統: 物理・表面計測系

測定室(管理室) 装置・機器
メーカー名 / 型番(形式)
設置場所・公開範囲
透過型電子顕微鏡室Ⅱ 電界放出形透過電子顕微鏡
日本電子株式会社 / JEM-2100F
22号館214室・学内外
高分解能透過電子顕微鏡
日本電子 / JEM-2010HR
22号館214室・学内外
精密イオンポリシングシステム
Gatan / PIPS2 Mode l695
22号館213室・学内のみ
透過型電子顕微鏡室Ⅲ 透過型電子顕微鏡
日本電子 / JEM-z2500
2号館122B室・学内外
透過型電子顕微鏡
日本電子 / JEM-1400Plus
2号館122B室・学内のみ
局所熱分析装置
日本サーマル・コンサルティング / Nano-TA2,VESTA
2号館909A室・学内外
ウルトラミクロトーム
ライカマイクロシステムズ / Leica EM UC7, FC7
2号館909A室・学内のみ
凍結試料作製装置
日本電子 / JFD-Ⅱ(EM-19500)
2号館909A室・学内のみ
走査電子顕微鏡
日本電子 / JSM-6010LA
2号館909A室・学内のみ
真空蒸着装置
日本電子 / JEE-420T
2号館909A室・学内のみ
オートファインコーター
日本電子 / JEC-3000FC
2号館909A室・学内のみ
透過型電子顕微鏡室Ⅳ 透過型電子顕微鏡
日本電子 / JEM-2100
セラ研B棟122・学内外
集束イオン/電子ビーム 複合ビーム加工観察装置
日本電子 / JIB-4500
セラ研B棟117・学内外
透過型電子顕微鏡室Ⅴ 原子分解能分析電子顕微鏡
日本電子 / JEM-ARM200F
2号館121B室・学内外
軟X線分光室 軟X線分析装置
日本電子 / JXA-8230
2号館113B室・学内外
X線マイクロアナライザー室 電界放出型電子プローブマイクロアナライザ
日本電子 / JXA-8530F
22号館402室・学内外
電界放出型走査電子顕微鏡
日本電子 / JSM-7001F
22号館402室・学内外
断面試料作製装置
日本電子 / IB09020
22号館401室・学内外
走査プローブ顕微鏡
日本電子 / JSPM-5200
22号館402室・学内外
走査電子顕微鏡室Ⅱ 走査型電子顕微鏡
日本電子 / JSM-6510
22号館401室・学内外
走査電子顕微鏡室Ⅲ 低加速電圧型ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
日本電子 / JSM-7800F
22号館409室・学内外
X線分析室 薄膜結晶用X線回折装置
リガク / SmartLab
22号館401室・学内外
粉末・多結晶用X線回折装置
リガク / SmartLabSE
22号館401室・学内外
表面粗さ計室 表面粗さ計
東京精密 / SURFCOM 1400D
22号館222室・学内のみ
表面粗さ計
東京精密 / SURFCOM 1400G(高倍率)
22号館222室・学内のみ
オージェ分析室 電界放出型オージェ電子分光装置
日本電子 / JAMP-9500F
22号館410室・学内外
光電子分光室 X線光電子分光分析装置
アルバック・ファイ / PHI5000 VersaProbe
22号館317室・学内外
2次イオン質量分析室 2次イオン質量分析装置
ATOMICA / SIMS-4000
2号館612B室・学内外
飛行時間型2次イオン質量分析装置
アルバック・ファイ / PHI TRIFTV nanoTOF
22号館159室・学内外
電子顕微鏡試料作成室 集束イオンビーム加工観察装置
日本電子 / JEM-9320FIB
22号館414室・学内外
成膜室 イオンビームスパッタリング装置
日本真空技術社 / IBS-2000BK
22号館164室・学内のみ
マグネトロンスパッタリング装置
アルバック / VTR-151M/SRF
22号館164室・学内のみ
真空蒸着装置
アルバック / VTR-060M/ERH
22号館164室・学内のみ