系統: 新共用プロジェクト

測定室(管理室) 装置・機器
メーカー名 / 型番(形式)
設置場所・公開範囲
RCS-I 顕微蛍光X線分析装置
堀場製作所 / XGT7200V
1号館122B室・学内のみ
白色共焦点顕微鏡
レーザーテック / OPTELICS HYBRID C3
1号館122B室・学内のみ
高周波真空溶解装置
富士電波工業 / FMV-1
1号館124B室・学内のみ
真空アーク溶解炉
大亜真空 / ACM-S01
1号館124B室・学内のみ
日立ハイテクS3400/堀場製作所分析装置
日立ハイテクノロジーズ、堀場製作所 / TEC-LaB6-D
1号館723B室・学内のみ
RCS-II 中規模並列計算機(旧型)
ビジュアルテクノロジ / VT64
2号館311B室・学内のみ
中規模並列計算機(新型)
ビジュアルテクノロジ / VT64F
2号館311B室・学内のみ
小規模並列計算機
コンカレントシステムズ / CFS3U-Xe34
2号館311B室・学内のみ
RCS-III レーザーアブレーション成膜装置
パスカル株式会社 他 / 特注仕様
2号館601B室・学内のみ
真空蒸着装置
株式会社アルバック 他 / 特注仕様
2号館601B室・学内のみ
RCS-IV レーザーラマン分光光度計
日本分光株式会社 / RMP510-S
11号館307室・学内のみ
分光光度計
日本分光株式会社 / V-670K
11号館307室・学内のみ
抵抗率/シート抵抗測定器
ナプソン株式会社 / RT-70V/RG-7C
11号館307室・学内のみ
X線回折装置
株式会社リガク / UltimaⅣ-285FX
11号館607室・学内のみ
RCS-V ラマン分光-原子間力顕微鏡
Renishaw / Raman-SPM/AFM
2号館1010B室・学内のみ
共焦点レーザー顕微鏡
CarlZeiss / LSM880
2号館1012B室・学内のみ
走査型電子顕微鏡
日本電子株式会社 / JSM-6010LA
2号館1014B室・学内のみ
グロー放電発光表面分析装置
堀場製作所 / GD-Profiler2-MN
2号館1014B室・学内のみ
酸素・窒素・水素分析装置
堀場製作所 / EMGA-930
2号館1014B室・学内のみ
ICP発光分析装置
島津製作所 / ICPS-7510
2号館1014B室・学内のみ
炭素・硫黄分析装置
LECO / CS844
2号館1014B室・学内のみ
ガスクロマトグラフ質量分析計
日本電子株式会社 / JMS-Q1500GC
2号館1014B室・学内のみ
核磁気共鳴装置
Bruker / AVANCEⅢ HD400SJ
2号館102A室・学内のみ
RCS-VI 分光光度計
島津製作所 / UV3600
19号館603室・学内のみ
分光光度計
島津製作所 / SolidSpec-3700
19号館603室・学内のみ
円二色性分散計
日本分光 / J-820
19号館603室・学内のみ
ゼータ電位・粒子径測定装置
Malvern / ゼーターサイザーZS
19号館314室・学内外
液体クロマトグラフ質量分析計
島津製作所 / LCMS-2020
19号館619室・学内のみ
液体クロマトグラフ質量分析計
島津製作所 / LCMS-2020
19号館240室・学内のみ
300MHz 核磁気共鳴装置
バリアン / PFG524N
19号館621室・学内のみ
高感度近赤外型絶対PL量子収率測定装置
浜松ホトニクス / C13534-23
19号館603室・学内のみ
ナノ秒時間分解分光測定装置
ユニソク / TSP-2000
19号館603室・学内のみ
RCS-VII ICP発光分析装置
日立ハイテクサイエンス / SPS7800
セラ研駅前・学内のみ
X線光電子分光装置
Surface Science Instrument / M-probe
セラ研A105室・学内のみ
単結晶X線回折装置
Bruker / Smart Apex Ⅱ
セラ研B101室・学内のみ
粉末X線回折装置
リガク / RINT1000
セラ研B102室・学内のみ
RCS-VIII 磁界-磁化アナライザ
岩通計測 / SY-8218他
16号館105室・学内のみ
多光子励起レーザ走査型顕微鏡
オリンパス / FV1200MPE-M-MKM
3号館126室・学内のみ
ホール効果測定システム
Ecopia社 / HMS-3000
11号館509室・学内のみ
RCS-IX 動的データ計測システム
東京測器研究所 / DRA-30A
25号館1階・学内のみ
恒温恒湿室一式(人工気候室)付属測定装置一式を含む
㈱大西熱学 /
11号館401室・学内のみ