測定対象: 高分子

測定室(管理室) 装置・機器
メーカー名 / 型番(形式)
設置場所・公開範囲
軟X線分光室 軟X線分析装置
日本電子 / JXA-8230
2号館113B室・学内外
X線マイクロアナライザー室 電界放出型電子プローブマイクロアナライザ
日本電子 / JXA-8530F
22号館402室・学内外
電界放出型走査電子顕微鏡
日本電子 / JSM-7001F
22号館402室・学内外
断面試料作製装置
日本電子 / IB09020
22号館401室・学内外
走査プローブ顕微鏡
日本電子 / JSPM-5200
22号館402室・学内外
X線分析室 薄膜結晶用X線回折装置
リガク / SmartLab
22号館401室・学内外
粉末・多結晶用X線回折装置
リガク / SmartLabSE
22号館401室・学内外
核磁気共鳴室 超伝導高分解能核磁気共鳴装置
JEOL RESONANCE / ECZ700R
22号館160室・学内外
超伝導高分解能核磁気共鳴装置
Bruker / AV500 + CryoProbe
22号館316室・学内外
超伝導高分解能核磁気共鳴装置
Bruker / AV400N
22号館311室・学内のみ
固体核磁気共鳴室 固体核磁気共鳴装置
JEOL RESONANCE / ECA600II
22号館160室・学内外
質量分析室 レーザーイオン化高分解能飛行時間型MS
日本電子 / JMS-S3000
22号館223室・学内外
液体クロマトグラフ高分解能飛行時間型MS
Waters / Synapt G2 HDMS + Acquity
22号館302室・学内外
熱分析室 示差熱天秤
リガク / TG8101D
22号館314室・学内外
示差走査熱量計
リガク / DSC8230
22号館314室・学内外
示差熱天秤
リガク / TG8120
22号館314室・学内外
示差走査熱量計
リガク / DSC8230 (EVO)
22号館314室・学内外
赤外ラマン分光室 フーリエ変換赤外分光光度計
日本分光 / FT/IR-6300, IRT-5000
22号館310室・学内外
レーザーラマン分光装置
日本分光 / NRS-3300
22号館310室・学内外
物質ダイナミックス解析室 粘弾性測定装置
SIIナノテクノロジー / DMS6100
22号館413室・学内外
熱機械分析装置
SIIナノテクノロジー / TMA/SS7100C
22号館413室・学内外
RCS-V 共焦点レーザー顕微鏡
CarlZeiss / LSM880
2号館1012B室・学内のみ
核磁気共鳴装置
Bruker / AVANCEⅢ HD400SJ
2号館102A室・学内のみ
絶対分子量測定装置
Waters / 液体クロマトグラフ質量分析計 ACQUITY
2号館102A室・学内のみ
RCS-VI 分光光度計
島津製作所 / UV3600
19号館603室・学内のみ
分光光度計
島津製作所 / SolidSpec-3700
19号館603室・学内のみ
円二色性分散計
日本分光 / J-820
19号館603室・学内のみ
ゼータ電位・粒子径測定装置
Malvern / ゼーターサイザーZS
19号館314室・学内外
300MHz 核磁気共鳴装置
バリアン / PFG524N
19号館621室・学内のみ
高感度近赤外型絶対PL量子収率測定装置
浜松ホトニクス / C13534-23
19号館603室・学内のみ
ナノ秒時間分解分光測定装置
ユニソク / TSP-2000
19号館603室・学内のみ
時間分解赤外分光室 時間分解赤外分光装置
Bruker / VERTEX80+HYPERION3000
22号館 217室・学内外