透過型電子顕微鏡室Ⅱ

本測定室では主に無機材料を対象として、結晶構造や組織構造など物質の微細構造の観察、 解析を行っています。対象となる無機材料はセラミックスをはじめ、金属、半導体、ナノ材料など 多岐にわたります。観察、解析手法としては電子回折、明視野法、暗視野法、高分解能電子顕微鏡 (TEM)法、エネルギ―分散型X線分光(EDS)分析などを駆使して行います。また、高分解能走査 透過電子顕微鏡(STEM)観察や電子エネルギ―損失分光法(EELS)による測定が可能であり、先端的な 材料開発に貢献しています。

学内利用方法および利用料金

ポータル内の機器分析受付システムに記載の注意事項を確認の上、申請してください。 利用料金は、職員ポータル共有ドキュメント内にあります。  e.センター>03-09大型設備基盤センター>01 料金表

学外利用方法および利用料金

ご相談、または受託試験を希望される学外の方は、学外利用案内をご覧下さい。