光電子分光室

  • X線光電子分光分析装置X線光電子分光分析装置
    機器名 X線光電子分光分析装置
    メーカー  アルバック・ファイ
    型番(形式)  PHI5000 VersaProbe
    設置場所  22号館317室
    公開範囲  学内外

測定原理

測定原理

本装置は細束軟X線を物質に照射し、放出される光電子のエネルギー分析を行ない、元素の同定、定量、状態、分布などを調べるものである。あらゆる固体物質について微小領域の分析が可能である。 上図は本装置の概念図である。

学内利用方法および利用料金

ポータル内の機器分析受付システムに記載の注意事項を確認の上、申請してください。 利用料金は、職員ポータル共有ドキュメント内にあります。  e.センター>03-09大型設備基盤センター>01 料金表

学外利用方法および利用料金

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