透過型電子顕微鏡室Ⅱ

本測定室では主に無機材料を対象として、結晶構造や組織構造など物質の微細構造の観察、 解析を行っています。対象となる無機材料はセラミックスをはじめ、金属、半導体、ナノ材料など多岐にわたります。観察、解析手法としては電子回折、明視野法、暗視野法、高分解能電子顕微鏡(TEM)法、エネルギ―分散型X線分光(EDS)分析などを駆使して行います。また、高分解能走査透過電子顕微鏡(STEM)観察や電子エネルギ―損失分光法(EELS)による測定が可能であり、先端的な材料開発に貢献しています。

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